Дослідження впливу оптимізації технологічного процесу на надійність інтегральних мікросхем

Автор(и)

  • Н.М. Прищепа Київський політехнічний інститут, м. Київ
  • С.Н. Деменін Київський політехнічний інститут, м. Київ

Ключові слова:

технологічний процес, дифузія, стоку МОП транзистор, надійність мікросхеми

Анотація

Провідає експериментальні дослідження впливу оптимізації технологічного процесу дифузії при формуванні областей витоку і стоку МОП транзистора на основні електричні параметри і надійність мікросхеми.

Біографії авторів

  • Н.М. Прищепа, Київський політехнічний інститут, м. Київ
    Прищепа Н.М., канд. техн. наук, доц ..

  • С.Н. Деменін, Київський політехнічний інститут, м. Київ
    Деменін С.Н., інж.

Завантаження

Номер

Розділ

Articles