Підвищення якості автоматичного трасування з'єднань мікроелектронної апаратури
Ключові слова:
САПР, автоматичне трасування, мікроелектронна апаратура, завади, паразитні параметри, лінії зв'язкуАнотація
Представлена класифікація перешкод, що наводяться в «коротких» лініях зв'язку цифрових функціональних вузлів (ФУ), за місцем виникнення і характером впливу. Досліджено причини відсутності в сучасних САПР підсистем мінімізації паразитних параметрів ліній зв'язку. Запропоновано два варіанти організації процесу трасування з'єднань плоских конструктивів з урахуванням допустимого рівня перешкод. На основі аналізу вимог до цифрових ФУ, виконаним у вигляді двосторонніх багатошарових друкованих плат, виготовлених методом пошарового нарощування, і багатошарових плівкових микросборок, рекомендований набір обмежень і приватних критеріїв оптимізації топології.Посилання
Наумов Ю. Я., Аваев И. А., Бедрековский М. А. Помехоустойчивость устройств на интегральных логических схемах. М., 1975. 216 с.
Авдеев Я. В., Еремин А. Т., Норенков И.Я., Песков М. И. Системы автоматизированного проектирования в радиоэлектронике: Справ. М., 1986. 368 с.
Будя А. Я., Кононюк А. Я., Куценко Г. П. и др. Справочник по САПР. К., 1988. 375 с.
Кузнецов А. Л., Плотников С. А. Система контроля геометрических и электрических параметров двухсторонних печатных плат // Изв. вузов. Приборостроение. 1989. N10. С. 43-49.
Парахин В. В., Усатенко А. П., Карташева Л. В., Мильков И. С. Принципы построения персональной САПР для малых ЭВМ // Тез. докл. респ. науч.-техн. конф. «Информационное и программное обеспечение”. Ужгород, 1988. С. 19-20.
