Povyshenie kachestva avtomaticheskoi trassirovki soedinenii mikroelektronnoi apparatury [Improving the quality of automatic trace connections of microelectronic devices]
Keywords:
CAD, automatic routing, microelectronic devices, interference, parasitic parameters, communication lineAbstract
The classification of noise induced in the "short" lines of communication of digital functional units (FU), the place of occurrence and nature of exposure. The reasons for the lack of a modern CAD subsystems to minimize the parasitic parameters of the communication lines. Suggested two options for process trace compounds flat constructs based on an acceptable level of interference. Based on the analysis of requirements for digital FU, made in the form of bilateral multi-layer printed circuit boards manufactured by layering capacity, and multilayer film microassemblies, recommended a set of constraints and the particular criteria for topology optimization.References
Наумов Ю. Я., Аваев И. А., Бедрековский М. А. Помехоустойчивость устройств на интегральных логических схемах. М., 1975. 216 с.
Авдеев Я. В., Еремин А. Т., Норенков И.Я., Песков М. И. Системы автоматизированного проектирования в радиоэлектронике: Справ. М., 1986. 368 с.
Будя А. Я., Кононюк А. Я., Куценко Г. П. и др. Справочник по САПР. К., 1988. 375 с.
Кузнецов А. Л., Плотников С. А. Система контроля геометрических и электрических параметров двухсторонних печатных плат // Изв. вузов. Приборостроение. 1989. N10. С. 43-49.
Парахин В. В., Усатенко А. П., Карташева Л. В., Мильков И. С. Принципы построения персональной САПР для малых ЭВМ // Тез. докл. респ. науч.-техн. конф. «Информационное и программное обеспечение”. Ужгород, 1988. С. 19-20.
