Орієнтовані графи як математичний апарат опису дефектів філаменту 3D друку

Автор(и)

  • Н. Я. Гапон Харківський національний університет радіоелектроніки, м. Харків, Україна https://orcid.org/0000-0001-9798-7136
  • О. Б. Зайченко Харківський національний університет радіоелектроніки, м. Харків, Україна https://orcid.org/0000-0003-4936-2785

DOI:

https://doi.org/10.20535/RADAP.2024.96.42-49

Ключові слова:

орієнтовані графи, коефіцієнт передачі, коефіцієнт відбиття, діелектрик, дефект

Анотація

Досліджено дефекти філамента за допомогою графічних моделей, таких як орієнтовані графи. Об’єктом дослідження є графічна модель дефекту філамента для 3D друку. Встановлено, що метод Ніколсона-Роса-Вейра, який використовується в серійних векторних аналізаторах для вимірювання параметрів діелектриків, може бути використний для створення моделей дефектів філамента для 3D друку. В основі запропонованого методу лежить модель у вигляді орієнтованих графів. Удосконалення методу Ніколсона-Роса-Вейра полягає в розвитку графічної моделі за рахунок додавання дефекта у вигляді частини орієнтованого графа. Аналіз моделі, побудованої на базі орієнтованих графів, виявив, що коефіцієнт передачі S21 є частиною коефіцієнта відбиття S11, що доцільно під час розв'язання системи нелінійних рівнянь для S11 та S21. Створено графічну модель, яка відрізняється тим, що враховує дефекти діелектриків, тобто філамента. Перехід від графічної моделі до аналітичної здійснюється, використовуючи методи спрощення або редукції орієнтованих графів, зокрема топологічний метод за правилами Кюна та алгебраїчний метод, з урахуванням правила неторкаючихся контурів Мезона. В результаті отримані аналітичні вирази для коефіцієнта передачі орієнтованого графа, що є моделлю діелектрика з дефектом всередині. Використання двох незалежних топологічного та алгебраїчного методів, а також розгляд окремого випадку, коли коефіцієнт відбиття дефекту дорівнює нулю, дозволяє верифікувати отримані вирази для елементів матриці розсіювання S11 та S21. Використовуючи метод аналогій класичного методу Ніколсона-Роса-Вейра і того ж методу з врахуванням дефекту для матеріалу філамента, виведна аналітична залежність, яка пов'язує S21 та S11 функціональним співвідношенням.

Посилання

References

Chen L. F., Ong C. K., Neo C. P., Varadan V. V., Varadan V. K. (2004). Microwave Electronics Measurement and Material Characterization, Wiley, 549 p.

Nicolson A. M. (1968). Broad-band microwave transmission characteristics from a single measurement of the transient response. IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, Vol. 17, No. 4, pp. 395–402. DOI: 10.1109/TIM.1968.431374.

Nicolson A. M., Ross G. F. (1970). Measurement of the Intrinsic Properties of Materials by Time-Domain Techniques. IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, Vol. 19, No. 4, pp. 377–382. DOI:10.1109/TIM.1970.4313932.

Ross G. F. (1970). A Simple Method for Obtaining the System Function of a Cascade Connection of Transmission Lines (Correspondence). IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques, No. 18, pp. 738–740. DOI:10.1109/TMTT.1970.1127341.

Mason S. J. (1956). Feedback theory: Further properties of signal flow graphs. Proceedings of the IRE, No. 6, pp. 920–926.

Hunton J. K. (1960). Analysis of microwave measurement techniques by means of signal flow graphs. IRE Transactions on Microwave Theory and Techniques, No 8, pp. 206–212.DOI:10.1109/TMTT.1960.1124724.

Kuhn N. (1963). Simplified signal flow graph analysis. Microwave Journal, No. 6, pp. 59–66.

Rittner I. L., Fano W. G. (2018). Design and Evaluation of a Measurement Procedure to obtain the Electric Permittivity and the Magnetic Permeability. Revista elektron, Vol. 2, No. 1, pp. 30-38.

Choi H. E., Choi W., Simakov E. I. et al. (2019). Error Tolerant Method of Dielectric Permittivity Determination Using a TE 01 Mode in a Circular Waveguide at the W-Band. IEEE Transactions on Microwave Theory and Technique, Vol. 68, No. 2, pp. 808–815. DOI:10.1109/TMTT.2019.2951156.

Sun J., Lucyszyn S. (2018). Extracting complex dielectric properties from reflection-transmission mode spectroscopy. IEEE Access, Vol. 6, pp. 8302–8321. DOI:10.1109/ACCESS.2018.2797698.

Sahin S., Nahar N. K., Sertel K. (2020). A simplified Nicolson–Ross–Weir method for material characterization using single-port measurements. IEEE Transactions on Terahertz Science and Technology, Vol. 10, Iss. 4, pp. 404-410. DOI: 10.1109/TTHZ.2020.2980442.

Somlo, P. I., Hunter, J. D. (1985). Microwave impedance measurement. IEEE Transactions on Terahertz Science and Technology, Vol. 10, Iss. 4, pp. 404-410. DOI: 10.1109/TTHZ.2020.2980442.

Miroshnyk, M., Zaichenko, O., Miroshnyk, A., Zaichenko, N. (2023). Graphical Models for Defectoscopy of Dielectrics. XXXIII International Scientific Symposium Metrology and Metrology Assurance (MMA), pp. 1-5, doi: 10.1109/MMA59144.2023.10317932.

##submission.downloads##

Опубліковано

2024-06-30

Як цитувати

Гапон , Н. Я. і Зайченко , О. Б. (2024) «Орієнтовані графи як математичний апарат опису дефектів філаменту 3D друку», Вісник НТУУ "КПІ". Серія Радіотехніка, Радіоапаратобудування, (96), с. 42-49. doi: 10.20535/RADAP.2024.96.42-49.

Номер

Розділ

Теорія та практика радіовимірювань