Експериментальний дослід впливу старіння на шуми транзисторного підсилювача

Автор(и)

  • Р. А. Карпенко Київський політехнічний інститут, м. Київ
  • В. І. Заган Київський політехнічний інститут, м. Київ

Ключові слова:

старіння, транзисторний підсилювач, шуми, комбінована зворотний, вхідна провідність

Анотація

Прийнято вважати, що власні шуми транзисторів складаються з трьох складових: термічного шуму, шуму за рахунок дробового ефекту і так званого надмірного шуму [1]. Оскільки поверхневі процеси та струм Ik0 не залишаються постійними у часі, то і величини складових шумів, пропорційні їм, також повинні змінюватися в часі. Був поставлений експеримент з метою визначити, чи змінюються шуми підсилювача в процесі старіння транзисторів та якими складовими обумовлена ця зміна. Для цього досліджувався спектральний склад шумів малошумлячого підсилювача, призначеного для роботи від ємнісного датчика.

Біографії авторів

Р. А. Карпенко, Київський політехнічний інститут, м. Київ

Карпенко Р. А.

В. І. Заган, Київський політехнічний інститут, м. Київ

Заган В. І.

Посилання

Потрясай В. Ф., Рыжов А. С., Сутягин В. Л. Шумы транзисторов. – Сб. «Полупроводниковые приборы и их применение». Под. ред. Я. А. Федотова. «Советское радио», 1960, вып. 5.

Криксунов В. Г. Низкочастотные усилители. Гостехиздат УССР, 1961.

Мигулин И. Н., Чаповский М. 3. Зависимость входной проводимости транзисторов от температуры тока коллектора. – «Радиотехника и электроника», 1963, № 12.

##submission.downloads##

Номер

№ 3 (1966)

Розділ

Articles