Експериментальний дослід впливу старіння на шуми транзисторного підсилювача

Автор(и)

  • Р. А. Карпенко Київський політехнічний інститут, м. Київ
  • В. І. Заган Київський політехнічний інститут, м. Київ

Ключові слова:

старіння, транзисторний підсилювач, шуми, комбінована зворотний, вхідна провідність

Анотація

Прийнято вважати, що власні шуми транзисторів складаються з трьох складових: термічного шуму, шуму за рахунок дробового ефекту і так званого надмірного шуму [1]. Оскільки поверхневі процеси та струм Ik0 не залишаються постійними у часі, то і величини складових шумів, пропорційні їм, також повинні змінюватися в часі. Був поставлений експеримент з метою визначити, чи змінюються шуми підсилювача в процесі старіння транзисторів та якими складовими обумовлена ця зміна. Для цього досліджувався спектральний склад шумів малошумлячого підсилювача, призначеного для роботи від ємнісного датчика.

Біографії авторів

  • Р. А. Карпенко, Київський політехнічний інститут, м. Київ
    Карпенко Р. А.
  • В. І. Заган, Київський політехнічний інститут, м. Київ
    Заган В. І.

Посилання

Потрясай В. Ф., Рыжов А. С., Сутягин В. Л. Шумы транзисторов. – Сб. «Полупроводниковые приборы и их применение». Под. ред. Я. А. Федотова. «Советское радио», 1960, вып. 5.

Криксунов В. Г. Низкочастотные усилители. Гостехиздат УССР, 1961.

Мигулин И. Н., Чаповский М. 3. Зависимость входной проводимости транзисторов от температуры тока коллектора. – «Радиотехника и электроника», 1963, № 12.

Завантаження

Номер

№ 3 (1966)

Розділ

Articles