An experimental investigation of the effect of aging on the noise of a transistor amplifier

Authors

  • R. A. Karpenko Kiev Politechnic Institute, Kiev
  • V. I. Zagan Kiev Politechnic Institute, Kiev

Keywords:

aging, transistor amplifier, noise, combined feedback, input admittance

Abstract

The noise of a combined feedback amplifier after long storage (2800 hours) is analyzed. It is shown, that as a result of the amplifier storage its noise has increased. The change of the noise level of the amplifier is connected with the change of the transistor input addmitance with time.

Author Biographies

R. A. Karpenko, Kiev Politechnic Institute, Kiev

Karpenko R. A.

V. I. Zagan, Kiev Politechnic Institute, Kiev

Zagan V. I.

References

Потрясай В. Ф., Рыжов А. С., Сутягин В. Л. Шумы транзисторов. – Сб. «Полупроводниковые приборы и их применение». Под. ред. Я. А. Федотова. «Советское радио», 1960, вып. 5.

Криксунов В. Г. Низкочастотные усилители. Гостехиздат УССР, 1961.

Мигулин И. Н., Чаповский М. 3. Зависимость входной проводимости транзисторов от температуры тока коллектора. – «Радиотехника и электроника», 1963, № 12.

Downloads

Issue

No. 3 (1966)

Section

Articles