Надійність конструкції чарунок радіоелектронної апаратури за зовнішніх механічних впливів

Автор(и)

  • Б.М. Уваров Національний технічний університет України “Київський політехнічний інститут” http://orcid.org/0000-0003-3375-6181

DOI:

https://doi.org/10.20535/RADAP.2009.39.91-98

Ключові слова:

надійність апаратури, механічні впливи

Анотація

Розглядається вплив напружень у виводах мікросхем, мікрозбірок, та у їх паяних з’єднаннях, що є результатом дії зовнішніх механічних впливів – вібрацій та ударів – на показники надійності чарунки радіоелектронного апарату.

 

Біографія автора

  • Б.М. Уваров, Національний технічний університет України “Київський політехнічний інститут”
    Уваров Б.М., д.т.н., проф. кафедри конструювання та виробництва радіоапаратури

Посилання

1. Уваров Б.М. Механіка електронних апаратів: Навч. посібник. – К.: “Корнійчук”, 2008. – 314 с.
2. Писаренко Г.С., Яковлев А.П., Матвеев В.В. Справочник по сопротивлению материалов. – К.: Наукова думка, 1988. – 736 с.
3. ДСТУ 2862-94. Надійність техніки. Методи розрахунку показників надійності. Загальні вимоги.
4. Кузнецов О.А., Погалов А.И. Прочность паяных соединений. – М.: Машиностроение, 1987. – 112 с.

Завантаження

Опубліковано

2013-01-23

Номер

Розділ

Конструювання радіоапаратури

Як цитувати

“Надійність конструкції чарунок радіоелектронної апаратури за зовнішніх механічних впливів” (2013) Вісник НТУУ "КПІ". Серія Радіотехніка, Радіоапаратобудування, (39), pp. 91–98. doi:10.20535/RADAP.2009.39.91-98.

Статті цього автора (цих авторів), які найбільше читають

1 2 > >>