Electrical Impedance Tomography potential sensitivity

Authors

DOI:

https://doi.org/10.20535/RADAP.2012.50.92-104

Keywords:

phantom, electrical impedance tomography, sensitivity, increment, measuring accuracy, inhomogeneity

Abstract

The analysis of EIT phantom outline voltage measuring accuracy is carried out in this article. This accuracy is necessary for exposure of single inhomogeneity presence: "small" (it’s square is equal 3% of global phantom square), "middle" (8,5%) and “big” (19,59%) with different surface conductivity values of these inhomogeneities (background is phantom with surface conductivity σ=1).

Measuring was imitated by homogeneous phantom and phantoms with inhomogeneities voltage calculating and voltage difference computing (increment) between homogeneous phantom and phantoms with inhomogeneities. Inhomogeneities with bigger surface conductivity value than background conductivity value give significantly less voltage increments than inhomogeneities with smaller surface conductivity value than background. More sensitivity with closer position to phantom outline and bigger inhomogeneities size is illustrated by means of numerous increments values. Necessary measuring accuracy numerical assessments are proposed for considered inhomogeneities.

Author Biographies

I. O. Sushko, National Technical University of Ukraine, Kyiv Politechnic Institute, Kiev

postgraduate student

E. V. Gaydayenko, National Technical University of Ukraine, Kyiv Politechnic Institute, Kiev

postgraduate student

A. A. Yakubenko, National Technical University of Ukraine, Kyiv Politechnic Institute, Kiev

Cand. of Sci(Phisics), Assoc.Prof.

References

BrownB. H. ElectricalImpedance Tomography / B.H. Brown, D.C. Barber // Clinical Physics and Physiological Measurement. – 1992. – v.13. – Sappl. A, 207p.

Электроимпедансная томография / Я.С. Пеккер, К.С. Бразовский, В.Ю. Усов, М.П. Плотников, О.С. Уманский. – Томск: ООО «Издательство научно-технической литературы». – 2004. – 190с.

Корженевский А. В. Квазистатическая электромагнитная томография для биомедицины. Автореферат диссертации на соискание ученой степени д.ф.-м.н. Москва. – 2009. – 32c.

Корженевский А. В. Способ получения томографического изображения тела и электроимпедансный томограф / А.В. Корженевский, Ю.С. Культисов, В.А. Черепнин. Патент РФ на изобретение № 2127075. – 1996.

Гайдаєнко Є.В. Розроблення та макетування імпедансного томографа для вимірювання розподілення комплексних опорів / Є.В. Гайдаєнко, А.В. Мовчанюк, О.І. Рибін // Вісник НТУУ "КПІ". Серія Радіотехніка, Радіоапаратобудування . – 2011. – №44. – С.148 – 157.

Рыбина И.А. Решение прямой задачи импедансной томографии методами теории цепей / И.А. Рыбина // Вісник НТУУ "КПІ". Серія Радіотехніка, Радіоапаратобудування . – 2010. – №43. – С 4. – 13.

Рибіна І.О. Метод променів провідностей та моделювання фантома в імпедансній томографії / І.О. Рибіна // Вісник ЖДТУ. – 2010. – т.8. – 4. – С.21 – 28.

Рибіна І.О. Обчислення похідних від передаточного опору по поверхневій провідності кінцевих елементів при розв’язанні зворотної задачі імпедансної томографії / І.О. Рибіна, О.І. Рибін, О.Б. Шарпан // Вісник НТУУ "КПІ". Серія Радіотехніка, Радіоапаратобудування . – 2011. – №44. – С.5 – 11.

Рибіна І.О. Розв’язання зворотної задачі імпедансної томографії методами зон провідностей та зворотної проекції / І.О. Рибіна, О.І. Рибін, О.Б. Шарпан // Вісник НТУУ "КПІ". Серія Радіотехніка, Радіоапаратобудування. – 2011. – №45. – С.5 – 18.

Рибіна І.О. Обчислення похідних від передаточного опору по поверхневій провідності кінцевих елементів при розв’язанні зворотної задачі імпедансної томографії методом зон провідностей / І.О. Рибіна, О.І. Рибін, О.Б. Шарпан // Вісник НТУУ "КПІ". Серія Радіотехніка, Радіоапаратобудування. – 2011. – №44. – С.5 – 21.

Сушко І.О. Алгоритм розв’язання прямої задачі імпедансної томографії методом модифікацій / І.О. Сушко // Вісник НТУУ "КПІ". Серія Радіотехніка, Радіоапаратобудування. – 2011. – № 47. – С.165 – 175.

Сушко И.А. Оценка уровня кавитации методами импедансной томографии / И.А. Сушко, Е.В. Гайдаенко, А.В. Мовчанюк , А.И. Рыбин // Вісник НТУУ "КПІ". Серія Радіотехніка, Радіоапаратобудування. – 2011. – №48. – С. 168 – 179.

Дорожковець М.М. Фізичні принципи побудови вимірювальних томографічних систем промислового застосування / М.М. Дорожковець // Вимірювальна техніка та метрологія. – 1996. – №52. – С.113 – 121.

How to Cite

Сушко, І., Гайдаєнко, Є. and Якубенко, О. (2012) “Electrical Impedance Tomography potential sensitivity”, Visnyk NTUU KPI Seriia - Radiotekhnika Radioaparatobuduvannia, 0(50), pp. 92-104. doi: 10.20535/RADAP.2012.50.92-104.

Issue

Section

Radioelectronics Medical Technologies

Most read articles by the same author(s)

1 2 > >>