Аналіз методів контролю та оцінки радіаційної стійкості на прикладі модельних (Zn-O)-GaP світлодіодів

Автор(и)

  • О.Р. Абдуллаєв ВАТ «Оптрон», м. Москва
  • І. В. Рижиков Московський державний університет приладобудування та інформатики, м. Москва
  • Н.М. Руденко Національний технічний університет України “Київський політехнічний інститут”
  • Ю.Ф. Адаменко Національний технічний університет України “Київський політехнічний інститут” http://orcid.org/0000-0003-0452-6301

DOI:

https://doi.org/10.20535/RADAP.2014.56.112-120

Ключові слова:

(Zn-O)-GaP, світлодіод, константа пошкоджуваності, радіаційна стійкість, нейтронне опромінення, сила світла

Анотація

В роботі досліджено вплив нейтронного опромінення з енергією понад 0,1 і 2,65 МеВ на силу світла (Zn-O)-світлодів з червоним кольором світіння. Показано, що випромінювальна компонента струму, пов'язана з інжекцією електронів в оптично активну р-область з лінійним розподілом активаторів люмінесценції, при заданій напрузі була лінійною функцією безвипромінювального часу життя і, отже, флюенса нейтронного опромінення. На підставі вивчення вольт-амперних характеристик запропонована модель, згідно з якою безвипромінювальна рекомбінація переважає в високоомному компенсованому шарі, що розділяє р-і-n-області, в якій має місце режим високого рівня інжекції.  Зроблено висновок, що константа пошкоджуваності світлоділодів пропорційна імпульсу нейтронів.

Біографії авторів

  • О.Р. Абдуллаєв, ВАТ «Оптрон», м. Москва
    Абдуллаєв О.Р., к.т.н., директор по науці та виробництву
  • І. В. Рижиков, Московський державний університет приладобудування та інформатики, м. Москва
    Рижиков І. В., д.т.н., проф. каф. «Инновационные технологии в приборостроении, микро- и оптоэлектронике»
  • Н.М. Руденко, Національний технічний університет України “Київський політехнічний інститут”
    Руденко Н.М., к.т.н., доцент каф. радіоприймання та оброблення сигналів
  • Ю.Ф. Адаменко, Національний технічний університет України “Київський політехнічний інститут”
    Адаменко Ю.Ф., асист. каф. конструювання та виробництва радіоапаратури

Посилання

Перелік посилань

Крамер-Агеев Е.А. Активационные методы спектроскопии нейтронов / Е.А. Крамер-Агеев, В.С. Трошин, Е.Г. Тихонов, А.А. Званцев.– М. : Атомиздат, 1976. – 232c.

Ваrnes С.Е. Neutron damage in GaP Light-emitting diodes / С. Е. Ваrnes // Аррl. Phis. Lett. – 1972. – V. 22, No З. – Р. 110–112.

Званцев А. А. Радиационные изменения характеристик светоизлучающих р-n-переходов из фосфида галлия / А. А. Званцев, К. А. Крамер-Агеев, И. В. Рыжиков. – М. : МИФИ, 1988. – 13 с.

Hall R. N. Power rectifirers and transistors / R. N. Hall // Ргос. IRE. – 1952. – Р. 1512–1518.

Карагеоргий-Алкалаев П. М. Глубокие примесные уровни в широкозонных полупроводниках / П. М. Карагеоргий-Алкалаев, Л. Ю. Лейдерман. – Ташкент, Уз.ССР: ФАН, 1971. – 204 с.

References

Kramer-Ageev E.A., Troshin V.S., Tikhonov E.G. and Zvantsev A.A. (1976) Aktivatsionnye metody spektroskopii neytronov. Moskow, Atomizdat Publ. 232 p.

Ваrnes С. Е. (1972) Neutron damage in GaP Light-emitting diodes. Аррl. Phis. Lett., Vol. 2, No З, pp. 110–112.

Zvantsev A. A., Kramer-Ageev K.A. and Ryzhikov I.V. (1988) Radiatsionnye izmeneniya kharakteristik svetoizluchayushchikh r-n-perekhodov iz fosfida galliya. Moskow, MIFI Publ., 13 p.

Hall R. N. (1952) Power rectifirers and transistors. Ргос. IRE, pp. 1512–1518.

Karageorgiy-Alkalaev P.M. and Leyderman L.Yu. (1971) Glubokie primesnye urovni v shirokozonnykh poluprovodnikakh, Tashkent, Uz.SSR: FAN Publ., 204 p.

Завантаження

Опубліковано

2014-04-10

Номер

Розділ

Теорія та практика радіовимірювань

Як цитувати

“Аналіз методів контролю та оцінки радіаційної стійкості на прикладі модельних (Zn-O)-GaP світлодіодів” (2014) Вісник НТУУ "КПІ". Серія Радіотехніка, Радіоапаратобудування, (56), pp. 112–120. doi:10.20535/RADAP.2014.56.112-120.

Статті цього автора (цих авторів), які найбільше читають