Аналіз методів контролю та оцінки радіаційної стійкості на прикладі модельних (Zn-O)-GaP світлодіодів

Автор(и)

  • О.Р. Абдуллаєв ВАТ «Оптрон», м. Москва
  • І. В. Рижиков Московський державний університет приладобудування та інформатики, м. Москва
  • Н.М. Руденко Національний технічний університет України “Київський політехнічний інститут”
  • Ю.Ф. Адаменко Національний технічний університет України “Київський політехнічний інститут” http://orcid.org/0000-0003-0452-6301

DOI:

https://doi.org/10.20535/RADAP.2014.56.112-120

Ключові слова:

(Zn-O)-GaP, світлодіод, константа пошкоджуваності, радіаційна стійкість, нейтронне опромінення, сила світла

Анотація

В роботі досліджено вплив нейтронного опромінення з енергією понад 0,1 і 2,65 МеВ на силу світла (Zn-O)-світлодів з червоним кольором світіння. Показано, що випромінювальна компонента струму, пов'язана з інжекцією електронів в оптично активну р-область з лінійним розподілом активаторів люмінесценції, при заданій напрузі була лінійною функцією безвипромінювального часу життя і, отже, флюенса нейтронного опромінення. На підставі вивчення вольт-амперних характеристик запропонована модель, згідно з якою безвипромінювальна рекомбінація переважає в високоомному компенсованому шарі, що розділяє р-і-n-області, в якій має місце режим високого рівня інжекції.  Зроблено висновок, що константа пошкоджуваності світлоділодів пропорційна імпульсу нейтронів.

Біографії авторів

О.Р. Абдуллаєв, ВАТ «Оптрон», м. Москва

Абдуллаєв О.Р., к.т.н., директор по науці та виробництву

І. В. Рижиков, Московський державний університет приладобудування та інформатики, м. Москва

Рижиков І. В., д.т.н., проф. каф. «Инновационные технологии в приборостроении, микро- и оптоэлектронике»

Н.М. Руденко, Національний технічний університет України “Київський політехнічний інститут”

Руденко Н.М., к.т.н., доцент каф. радіоприймання та оброблення сигналів

Ю.Ф. Адаменко, Національний технічний університет України “Київський політехнічний інститут”

Адаменко Ю.Ф., асист. каф. конструювання та виробництва радіоапаратури

Посилання

Перелік посилань

Крамер-Агеев Е.А. Активационные методы спектроскопии нейтронов / Е.А. Крамер-Агеев, В.С. Трошин, Е.Г. Тихонов, А.А. Званцев.– М. : Атомиздат, 1976. – 232c.

Ваrnes С.Е. Neutron damage in GaP Light-emitting diodes / С. Е. Ваrnes // Аррl. Phis. Lett. – 1972. – V. 22, No З. – Р. 110–112.

Званцев А. А. Радиационные изменения характеристик светоизлучающих р-n-переходов из фосфида галлия / А. А. Званцев, К. А. Крамер-Агеев, И. В. Рыжиков. – М. : МИФИ, 1988. – 13 с.

Hall R. N. Power rectifirers and transistors / R. N. Hall // Ргос. IRE. – 1952. – Р. 1512–1518.

Карагеоргий-Алкалаев П. М. Глубокие примесные уровни в широкозонных полупроводниках / П. М. Карагеоргий-Алкалаев, Л. Ю. Лейдерман. – Ташкент, Уз.ССР: ФАН, 1971. – 204 с.

References

Kramer-Ageev E.A., Troshin V.S., Tikhonov E.G. and Zvantsev A.A. (1976) Aktivatsionnye metody spektroskopii neytronov. Moskow, Atomizdat Publ. 232 p.

Ваrnes С. Е. (1972) Neutron damage in GaP Light-emitting diodes. Аррl. Phis. Lett., Vol. 2, No З, pp. 110–112.

Zvantsev A. A., Kramer-Ageev K.A. and Ryzhikov I.V. (1988) Radiatsionnye izmeneniya kharakteristik svetoizluchayushchikh r-n-perekhodov iz fosfida galliya. Moskow, MIFI Publ., 13 p.

Hall R. N. (1952) Power rectifirers and transistors. Ргос. IRE, pp. 1512–1518.

Karageorgiy-Alkalaev P.M. and Leyderman L.Yu. (1971) Glubokie primesnye urovni v shirokozonnykh poluprovodnikakh, Tashkent, Uz.SSR: FAN Publ., 204 p.

##submission.downloads##

Опубліковано

2014-04-10

Як цитувати

Абдуллаєв, О., Рижиков, І., Руденко, Н. і Адаменко, Ю. (2014) «Аналіз методів контролю та оцінки радіаційної стійкості на прикладі модельних (Zn-O)-GaP світлодіодів», Вісник НТУУ "КПІ". Серія Радіотехніка, Радіоапаратобудування, 0(56), с. 112-120. doi: 10.20535/RADAP.2014.56.112-120.

Номер

Розділ

Теорія та практика радіовимірювань

Статті цього автора (авторів), які найбільше читають